高分辨率X射線衍射標(biāo)準(zhǔn)品（HRXRD），如NIST SRM 2000，是一種為HRXRD社區(qū)提供國(guó)際單位制（SI）可追蹤的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的材料。這些標(biāo)準(zhǔn)品為實(shí)驗(yàn)者提供了準(zhǔn)確的參考，以確保X射線衍射實(shí)驗(yàn)的結(jié)果具有高度的準(zhǔn)確性和可靠性。

NIST SRM 2000 高分辨率X射線衍射標(biāo)準(zhǔn)品的一個(gè)單元通常包括標(biāo)稱50 nm的25 mm×25 mm×0.725 mm雙拋光(100)取向單晶Si。它提供了關(guān)于Si(220) d間距、透射面到晶面晶片以及參考波長(zhǎng)的反射中的表面到Si(004)布拉格角等關(guān)鍵參數(shù)的信息。

這些高分辨率X射線衍射標(biāo)準(zhǔn)品SRM 2000在材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)和工程學(xué)等領(lǐng)域中具有重要的應(yīng)用，用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、相變、缺陷和應(yīng)力等性質(zhì)。通過使用這些標(biāo)準(zhǔn)品，研究人員可以準(zhǔn)確地校準(zhǔn)他們的X射線衍射設(shè)備，從而獲得更可靠和準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

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